LW400LJT

LW400LJT


芯片检查显微镜
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仪器用途:

LW400LJT适用于对不透明物体的显微观察。采用无限远光学系统,实现偏光观察、暗场观察等功能。适用于金相组织及表面形态的显微观察.

性能特点:

1、配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片),

2、配置大移动范围的载物台,移动范围:8"×8"(204mm×204mm)

3、粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带限位锁紧装置,微动格值:0.8μm

4、6V 30W卤素灯,亮度可调

5、三目镜筒,可切换正常观察/偏光观察,

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