清洁度分析系统
清洁度分析系统
系统配置清单
NO | 项目 | 技术参数 |
1-1 | 正置金相显微镜（2选1） | 型号：可配置显微镜 镜头：5倍，10倍，20倍，50倍 |
1-2 | 体式显微镜 （2选1） | 型号：多种型号可选 连续变倍体式显微镜； 放大倍数范围0.7-4.5，通过旋钮进行变倍调节； 偏光装置：可选 |
2 | 电动载物台 | 平台行程：水平方向*竖子方向=70*70（单位mm） 螺杆导程：2000μm 重复定位精度：±5μm以内 16细分下的分辨率：单步0.625μm 步进电机步距角：1.8° 额定工作电流：单轴1.0A（24V电源供电） 最大负载：≥5kg 最大往返间隙：5微米 |
3 | 驱动控制箱 | 长*宽*高：307*260*105（单位：毫米） 触摸屏：实时显示数据以及触控操作 采用通用232串口与PC机进行通信（115200波特率） 串口控制，能设置电机的移动速度，移动距离，移动方向 |
4 | 摄像头 | 300万或500万数字摄像头 |
5 | 软件 | 清洁度图像分析软件 |
6 | 电脑（选配） | 推荐配置：WIN7操作系统，4核CPU，4G内存。 |
1、界面简单。
2、三点定圆确定滤纸大小
软件采用三点定圆的算法,确定滤纸的直径和扫描范围。
3、全自动扫描，图像拼接、手动聚焦
快速、高效、精准的滤膜图像自动扫描和拼接（如果用体式显微镜方案，速度大约2分钟）。可定点移动到指定视场或颗粒位置进行观察，可用鼠标滚轮调节焦距。
4、自动搜出金属、非金属颗粒以及纤维
（1）明场/暗场分析模式：
对明场图像进行金属颗粒分析，对暗场图像（分析时，需加装偏光装置）进行非金属颗粒分析，最后进行颗粒数据统计。
l 先载入明场模式下的图像进行金属颗粒分析。
（明场下标记可能是金属的颗粒）
II 再载入暗场模式下的图像进行非金属颗粒分析
（暗场下标记可能是非金属的颗粒）
lII 最后进行颗粒数据统计：软件自动整合明场和暗场下的分析结果进行颗粒数据统计
正置金相显微镜方案：
体视显微镜方案：
