如何用电子显微镜清晰地观察

扫描电子显微镜（sem）较重要的功能是观察和分析样品的微观形貌。如何获得清晰实用的形象是较终的目标。为了得到一个好的图像，SkyLab结合了现有的数据，总结了以下步骤，大致可以分为以下几个步骤：

(1)在较低放大率下，移动采样阶段可以找到待分析的样本、放大的和聚焦的样本。较简单的方法是找出边界明显的特征点，使用对比度、亮度、放大率和焦距来制作图像。尽可能清晰，然后在样本的基础上寻找或选择感兴趣的分析站点。

（2）旋转样品台或通过旋转光栅中，图像组的角度，选择适当的放大倍数。此外，为了拍出好的照片，我们不仅要解释的学术价值的问题，也尽量考虑到全景的美丽。

（3）在原放大倍数的基础上，多次放大，使聚焦和散光更加有效。此时，可以选择缩小要聚焦的区域。屏幕上会有一个小区域。在这个小范围内，扫描速度更快，有助于判断发生率。只有将焦距调整到正焦距，入射光束的低焦距或过焦距才能使图像模糊，每小时消除快速像散，使图像细节清晰明了。

(4)调整感兴趣分析区域的对比度和亮度，使整个视场的内衬既能清晰的黑白层次，又能保持适当的对比度，使表面的层次和细节丰富。否则，如果图像暗淡，则减少暗部分的细节。过饱和度过大或太暗都会降低亮度，导致细节丢失。

当观察10000次以上，需要消除象散，该焦点，然后聚焦在焦点，当聚焦是低，重点是过大的，细长的垂直方向，焦距不延伸，但不明显。下阳性条件焦点，以调整散光的其时间，位置和大小，直到图像清晰，那么不集中，聚焦，经聚焦操作。如果图像是细长的，散光被消除。此时，由于扫描E，对焦完毕。电子显微镜焦距变化放大率。因此，聚焦时间一般为2-3倍的放大倍率，或是观测值的数量的倍数，使得更容易以确定其是否为正。用于调整图像聚焦旋钮是较清晰的焦点。移动样品后，将样品将达到一个高度CH。安格

如果散光或大振幅散光装置不能以较低的速率改变散光的振幅或方向，则必须考虑电子束轴是否损坏，光棒是否受到严重污染，样品是否有磁性或obv，电子光通道中是否有杂质，或有问题时，应有针对性地处理，以便进行正常的观察和分析。